Table rotative XYR 40 mm plateforme micrométrique manuelle guidage transversal

Table de positionnement XYR 40 mm pour métrologie industrielle

Optimisez vos processus d'alignement avec la table rotative à guidage transversal XYR40-L. Cet instrument de précision micrométrique est conçu pour les ateliers de micro-mécanique et les laboratoires de contrôle qualité. Sa structure compacte de 40 mm permet des réglages fins sur trois axes essentiels.

Double axe linéaire et rotation intégrée LSP40-L

La superposition des axes X, Y et de la rotation R permet d'effectuer des corrections de trajectoire complexes sans changer de support. Les utilisateurs évitent ainsi les pertes de temps liées aux repositionnements manuels successifs. Chaque bouton micrométrique est calibré pour offrir une sensibilité tactile optimale.

Une solution mécanique robuste pour les applications de vision industrielle nécessitant un alignement de caméra au sous-micron.

Avantages clés pour l'intégration système

1. Fixation rapide grâce aux trous taraudés standardisés.
2. Absence totale de jeu mécanique lors du serrage de la position.
3. Course fluide adaptée aux manipulations délicates sous microscope.

Ce composant devient indispensable pour l'assemblage de pièces d'horlogerie ou la manipulation de puces électroniques nécessitant une justesse absolue.